布魯克衝擊-II LC-QTOF

您是否有此儀器可供出售,或者您是否有興趣購買它?
請發送電子郵件或致電253-750-0818

 

 

Add to Quote
分類: ,

描述

布魯克衝擊-II LC-QTOF

該系統具有以下特點:

  • 在提供高精度 MS 和 MS/MS 數據的同時,皮克級靈敏度低
  • 通過增加動態範圍,對複雜的高背景矩陣進行明確的痕量分析
  • 真實同位素圖譜,實現明確的光譜
  • 通過自動校準確保 1 ppm 的卓越品質精度
  • 50 GBit/sec 採樣技術,即使在超快色譜下也能保持全規格解析度

如需諮詢,請致電253-750-0818